The APS/SPS200TESLA is the industry’s first fully-automated on-wafer probing solution focused on production performance for high-power semiconductors
Anti-arcing solution: Shielded system prevents arcing at higher voltages, protecting device and instrumentation from highvoltage discharge Anti-arcing probe, Anti-arcing probe card prevents on-wafer arcing at higher voltages by providing compressed atmosphere
MicroVac™ chuck: Uniformly distributed vacuum holes provide low contact resistance across the entire wafer, ensuring accurate measurement results, Thin-wafer handling capability enables automatic Taiko wafer loading/handling down to 50 μm thickness and conventional wafer loading/handling down to 80 μm thickness
Safety: Regulatory-certified probing environment to protect operators
Er ging iets mis op de server. Probeer het nog eens.
Bedankt!
Wij nemen zo snel mogelijk met u contact op.
Het formulier wordt verstuurd…
Foutje
Er ging iets mis op de server. Probeer het nog eens.
Bedankt!
Wij nemen zo snel mogelijk met u contact op.
Door verder te klikken op onze website, accepteert u cookies en vergelijkbare technieken. Hiermee worden persoonsgegevens verzameld en uw internetgedrag gevolgd. Dit doen we zodat wij en derden u advertenties kunnen laten zien die bij uw interesses passen en zodat u informatie kunt delen op social media. Meer weten?