Graag horen we vrijblijvend waar u naar op zoek bent.
Onze medewerker helpt u met een oplossing op maat, afhankelijk van de situatie en uw wensen.
Wafer testing is het testen van individuele geintegreerde schakelingen op wafer level niveau. Door middel van probestations wordt er uitgebreid getest op functionaliteit, characterisatie, eventuele defecte proces invloeden of procesafwijkingen en kunnen ook bepaalde life cycle tests uitgevoerd worden. De probestations kunnen voorzien worden van probecards en/of positioners om de meetpunten te connecteren met de meetinstrumentatie. Om een hoger rendement te halen kunnen de probestations ook uitgerust worden met een automatische loader, pre aligner, Id reader, en een Foup loaddock om zo 25 wafers in 1 batch te kunnen testen. Testen kan op verschillende manieren gebeuren, de meest voorkomende zijn Wafer Final Test (WFT), Electronic Die Sort (EDS) en Circuit Probe (CP). Met FormFactor heeft Microtron voor u een kwalitatieve oplossing voor al uw wafer testing. Neem contact op met onze experten voor meer informatie.
Meer informatie aanvragen ➜
Metrology
Met Formfactor als partner hebben we een ruim assortiment van essentiële test en meettechnologieën voor de volledige IC-levenscyclus, van inspectie en metrologie, karakterisering, modellering, betrouwbaarheid en design debug, tot kwalificatie en productietest. Contacteer Microtron voor een compleet overzicht.
Probe Cards
Een probe card is een essentiële interface voor het uitvoeren van wafer tests. Het zorgt voor de verbinding met de geïntegreerde schakelingen op een wafer naar de ATE (Automated Test Equipement) om hun elektrische parameters en prestaties te testen voordat ze worden vervaardigd en verzonden. Microtron heeft een uitgebreid portfolio van hoogwaardige probe cards.
Probe Stations
Met Formfactor als partner , hebben we een ruim assortiment aan probestations voor u in ons gamma. Van manual tot volledig automatische klusters. Probestations die geschikt zijn voor verschillende applicaties zoals DC, RF, High voltage, Silicon Photonics of misschien wel Vacuum of Cryosystemen. Deze probestations zijn dan weer verkrijgbaar met diverse accessoires zoals (digit…
Probes
Formfactor heeft een zeer ruim assortiment aan ( analytische) probes, optische probes of multi contact probes. Geschikt voor de karakterisatie van uw wafer, packaged device of board level devices. Allemaal zijn ze ontworpen om de uitdaging van een breed scala aan meetomgevingen aan te gaan of het nu bij RF is van 40GHz tot 1.1 THz, SiPh light probe, of gewoon een multi contact probe…
Software
FormFactor stelt diverse software ter beschikking om zo tot snellere en betere testresultaten te bekomen. De software regelt het uitlijnen en laden van probes en zorgt voor het verzamelen en analyseren van testgegevens zodat de tijd die u besteedt aan het uitvoeren van metingen geoptimaliseerd is.Hoe Microtron uw project begeleidt
Advies op maat?
Onze medewerkers helpen u graag
